芯片生产的核心技术环节是:1、芯片设计;2、芯片制造;3、封装测试。芯片设计就是通过eda设计软件画出电路图,芯片设计最开始需要明确芯片的用途、规格和性能表现,让工程师根据芯片的特点将芯片内部的规格使用划分出来,规划每个部分的功能需求空间。
1、芯片设计
芯片设计就是通过eda设计软件画出电路图,芯片设计最开始需要明确芯片的用途、规格和性能表现,让工程师根据芯片的特点将芯片内部的规格使用划分出来,规划每个部分的功能需求空间,确立不同单元间联结的方法,同时确定设计的整体方向。这一部分看似没有太多技术含量,却对之后的设计起着至关重要的作用,区域划分不够的,无法完成该区域内的功能实现,会导致之前的工作全部推翻重来。
2、芯片制造
芯片的制造过程可概分为晶圆处理工序(Wafer Fabrication)、晶圆针测工序(Wafer Probe)、构装工序(Packaging)、测试工序(Initial Test and Final Test)等几个步骤。其中晶圆处理工序和晶圆针测工序为前段(Front End)工序,而构装工序、测试工序为后段(Back End)工序。而芯片设计行业需要与产业链后端晶圆制造、封装测试环节紧密合作,不但在设计阶段需要考虑工艺是否可以实现相应电路设计,同时需要整合产业链资源确保芯片产品的及时供给,因此还十分考验企业的能力,是否能完成这一系列的生产。金誉半导体能够为客户提供一站式的应用解决方案和现场技术支持服务。
3、芯片封测
封测有着安放、固定、密封、保护芯片和增强电热性能的作用,而且还是沟通芯片内部世界与外部电路的桥梁——芯片上的接点用导线连接到封测外壳的引脚上,这些引脚又通过印制板上的导线与其他器件建立连接。因此,封测对集成电路起着重要的作用。下面分别讲解封测的作用。封装测试是将生产出来的合格晶圆进行切割、焊线、塑封,使芯片电路与外部器件实现电气连接,并为芯片提供机械物理保护,并利用集成电路设计企业提供的测试工具,对封装完毕的芯片进行功能和性能测试。
延伸阅读:
什么是芯片?
集成电路英语:integrated circuit,缩写作 IC;或称微电路(microcircuit)、微芯片(microchip)、晶片/芯片(chip)在电子学中是一种将电路(主要包括半导体设备,也包括被动组件等)小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上。
电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜(thin-film)集成电路。另有一种厚膜(thick-film)集成电路(hybrid integrated circuit)是由独立半导体设备和被动组件,集成到衬底或线路板所构成的小型化电路。
从1949年到1957年,维尔纳·雅各比(Werner Jacobi)、杰弗里·杜默(Jeffrey Dummer)、西德尼·达林顿(Sidney Darlington)、樽井康夫(Yasuo Tarui)都开发了原型,但现代集成电路是由杰克·基尔比在1958年发明的。其因此荣获2000年诺贝尔物理奖,但同时间也发展出近代实用的集成电路的罗伯特·诺伊斯,却早于1990年就过世。
晶体管发明并大量生产之后,各式固态半导体组件如二极管、晶体管等大量使用,取代了真空管在电路中的功能与角色。到了20世纪中后期半导体制造技术进步,使得集成电路成为可能。相对于手工组装电路使用个别的分立电子组件,集成电路可以把很大数量的微晶体管集成到一个小芯片,是一个巨大的进步。集成电路的规模生产能力,可靠性,电路设计的模块化方法确保了快速采用标准化集成电路代替了设计使用离散晶体管。
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